OTOMATİK BALONLAMA VE SPC SÜREÇLERİ AYNI ARA YÜZDE

İstatistiksel proses kontrol bir ürünün en ekonomik ve yararlı bir tarzda üretilmesini sağlamak amacıyla, istatiksel prensip ve tekniklerin üretimin tüm aşamalarında kullanılmasıdır. İstatistiki proses kontrol, üretimin önceden belirlenmiş kalite spesifikasyonlarına uygunluğunu sağlayan, standartlara bağlılığı hedef alan, kusurlu ürün üretimini en aza indirmekte kullanılan bir araçtır. Inspection Manager yazılımında girilen verilerle birlikte tüm SPC süreçlerinizi yönetebilirsiniz

HİSTOGRAM DİYAGRAMI

Histogram bir grafik değil, bir frekans dağılımıdır. Histogram, günümüzde kullanılan en popüler frekans dağıtım yöntemidir. Spesifikasyon sınırları ile birleştiğinde, operatöre bir süreç hakkında çok şey söyleyebilir. Histogram adını tarihsel bilgi görüntülemesi gerçeğinden alır. Frekans dağılımı, her biri eşit genişliğe sahip yan yana sütunlar olarak çizilir.
Operatöre daha sonra işlemin ne yapacağını söyleyemez, ancak operatöre geçmişte ne yaptığını söyleyebilir ve süreci tanımak, kontrolünü elde etmenin ilk adımıdır.
Frekans histogramı, toplanan verileri özetlemek için çok etkili bir grafik ve kolay yorumlanabilir yöntemdir ve işlemin dağılımını gösterir. Aşağıdakiler hakkında bilgi sağlar: verilerin ortalaması (ortalama), verilerdeki varyasyon, varyasyon paterni ve işlemin spesifikasyonlar dahilinde olup olmadığı.

USL/LSL KONTROL LİMİTLERİ

USL ve LSL, bir müşteri (dahili veya harici) tarafından belirlenen spesifikasyon sınırlarıdır. Bazı durumlarda isteğe bağlıdır, bazı durumlarda bunu desteklemek için istatistiksel analizler vardır ve diğerlerinde bu sadece sürecin bir sonraki adımında neyin işe yaradığını anlama durumudur.

CP/CPK PROSES YETENEĞİ

Bir üretim sürecinin belirli bir süreç veya ürünler için tanımlanan spesifikasyon sınırlarını karşıladığından emin olmak için kalite yönetiminde kullanılan istatistiksel araçlardır. Proses kabiliyeti kontrollü şartlar altında prosesten periyodik numuneler alınarak standart sapma ve numune ortalaması hesaplanarak belirlenir. Cp, bir numunenin örnek ortalamasından ne kadar uzakta olduğunu belirler, Cpk ise dikkate alınan numunelerin ortalamasıdır.
Cp, Üst Spesifikasyon Sınırı (USL) ve Alt Spesifikasyon Sınırı (LSL) kullanarak spesifikasyonuna göre proses kapasitesini ölçer, Cpk de proses ortalaması olarak kabul edilen örnek ortalamasına göre proses varyasyonunu ölçer.